Pierwsze Ogólnopolskie

Warsztaty Kompatybilności Elektromagnetycznej

WARSZTATY EMC – WROCŁAW ’99

Pod patronatem Sekcji Kompatybilności Elektromagnetycznej Komitetu Elektroniki i Telekomunikacji PAN



Organizatorzy:
 
 
POLITECHNIKA WROCŁAWSKA
INSTYTUT TELEKOMUNIKACJI
I AKUSTYKI
INSTYTUT ŁĄCZNOŚCI 
ODDZIAŁ WE WROCŁAWIU
 

 
 

Wrocław 29.06 – 01.07.1999

http://www.zr.ita.pwr.wroc.pl/emc


 
 
WARSZTATY EMC – WROCŁAW ’99

 

SZCZEGÓŁOWY PROGRAM WARSZTATÓW Z PLANEM GODZINOWYM format MS Word 97


 


WARSZTATY EMC – WROCŁAW ’99

RAMOWY PROGRAM WARSZTATÓW

Warsztaty rozpoczną się 29 czerwca 1999 roku o godzinie 9.00 w Gmachu Głównym Politechniki Wrocławskiej przy ul. Wybrzeże Wyspiańskiego 27.

W trakcie trwania warsztatów będą prezentowane referaty:

Ponadto odbędą się wycieczki techniczne do laboratoriów Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej oraz Wrocławskiego Oddziału Instytutu Łączności, gdzie będą prezentowane stanowiska pomiarowe oraz metody pomiaru emisyjności i podatności urządzeń.

Czołowe firmy światowe zaprezentują aparaturę do pomiaru emisyjności i podatności urządzeń.

REFERATY PLENARNE (29 czerwca 1999 r.)

Kompatybilność elektromagnetyczna - Daniel J. Bem

Podstawowe pojęcia i definicje. Mechanizmy generacji zakłóceń. Rozprzestrzenianie się zakłóceń: sprzężenia pojemnościowe, indukcyjne i polowe. Sposoby ograniczania emisji zakłóceń. Sposoby ochrony przed zakłóceniami.

Dyrektywa EMC 89/336/UE -Tomasz Niewodniczański

Omówienie dyrektywy. Akty normalizacyjne w zakresie EMC w krajach Unii Europejskiej. Sytuacja Polski w okresie przed i po wstąpieniu do Unii Europejskiej.

Normy dotyczące EMC - Władysław Moroń, Mirosław Pietranik

Przegląd europejskich norm dotyczących EMC. Normy rodzajowe, normy przedmiotowe, normy podstawowe.

Procedura uzyskiwania znaku CE - Witold Kowal

Urządzenia podlegające obowiązkowi oznaczenia znakiem CE. Umieszczanie oznaczenia CE. Skutki prawne oznaczenia znakiem CE. Kontrola rynku.

Pomiary emisyjności – Tadeusz W. Więckowski

Pomiar zakłóceń przewodzonych i promieniowanych do środowiska. Pomiary na poligonie pomiarowym, w komorze bezodbiciowej oraz w komorze rewerberacyjnej. Alternatywne metody pomiaru emisyjności.

Pomiary podatności – Tadeusz W. Więckowski

Pomiar podatności urządzeń na ciągłe i impulsowe pola elektromagnetyczne. Bezpośrednie i pośrednie metody badania podatności. Pomiary w komorze ekranowanej, na poligonie pomiarowym oraz komorze bezodbiciowej.

REFERATY SPECJALISTYCZNE I FIRMOWE (30 czerwca 1999 r.)

Pomiar emisyjności na poligonie pomiarowym - Ryszard Zieliński

Dopuszczalne poziomy emisji zakłóceń promieniowanych. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

Odbiornik pomiarowy 8546A w pomiarach emisyjności - prezentacja firmy Hewlett Packard

Pomiary kompatybilności urządzeń w komorze bezodbiciowej - Andrzej Sowa

Pomiar podatności urządzeń na ciągłe pola elektromagnetyczne. Poziomy ostrości próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Pomiar emisyjności. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym zlokalizowanym w komorze bezodbiciowej. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru.

Nowe analizatory widma w badaniach kompatybilności urządzeń - prezentacja firmy Hewlett Packard

Pomiary w komorze GTEM – Walenty Suszyński

Pomiar emisyjności w komorze GTEM. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Metoda pomiaru. Stanowisko pomiarowe. Cechowanie stanowiska. Procedury przeliczeń wyników pomiaru dla warunków poligonu pomiarowego. Przykłady badań.

Odbiornik pomiarowy ESCS 30 w pomiarach emisyjności - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiar emisyjności z wykorzystaniem układu trzech anten ramowych - Zbigniew Jóskiewicz

Wymagania na stanowisko pomiarowe. Zasady pomiaru. Cechowanie stanowiska pomiarowego. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

EMS line w badaniach kompatybilności urządzeń - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiary zakłóceń przewodzonych - Jerzy Borowiec

Poziomy ostrości próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowisk pomiarowych. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

System pomiarowy EMI Pak w badaniach kompatybilności urządzeń - prezentacja firmy Rohde & Schwarz

Pomiary odporności urządzeń na ciągłe pola elektromagnetyczne - Ryszard Wroczyński

Pomiar w komorze GTEM metodą bezpośrednią. Pomiar metoda pośrednią. Wymagania stawiane stanowiskom

Komory ekranowane w badaniach kompatybilności - prezentacja firmy Unitronex

Pomiar odporności na zakłócenia impulsowe - Jan Sroka

Poziomy ostrości próby. Wymagania stawiane stanowiskom pomiarowym. Cechowanie stanowisk pomiarowych. Metodologia pomiaru. Przykłady badań.

System do pomiaru odporności BEST - prezentacja firmy Schaffner

Analizator widma 3026 w badaniach kompatybilności urządzeń - prezentacja firmy Tektronix

WYCIECZKI TECHNICZNE (1 lipca 1999 r.)

Prezentacja stanowisk pomiarowych oraz metod pomiaru kompatybilności urządzeń w laboratoriach Instytutu Telekomunikacji i Akustyki Politechniki Wrocławskiej oraz Wrocławskiego Oddziału Instytutu Łączności.